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X-3000是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。
技術(shù)參數(shù)：
激發(fā)源：本機采用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA
高壓電源：最大50W，50KV，1mA
探測器：電制冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于170KeV）
多道分析器：2048道
軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經(jīng)驗系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。 定性分析包括： KL線標記， 譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法。
電源：交流220V 50Hz
體積：520mm×600mm×270mm
重量：約 42kg (主機)
主要特點：
X-3000型測金儀優(yōu)勢的方面為采用了目前世界上較為先進的半基本參數(shù)法。該方法是一種理論方法。由測量多種主元素分析線的凈強度（這些主成分之和應(yīng)接近100%）并使用X射線熒光強度的理論公式來校正元素間的相互影響（吸收增強效應(yīng)）。基本參數(shù)法可以在一定的準確度下提供可靠的分析結(jié)果。它既不需要校準曲線，也不需要從經(jīng)驗中提取校正系數(shù)。它只需要少量可靠的標準樣品在確定的儀器條件下計算每個分析元素的純元素強度即可。采用X射線熒光方法,適應(yīng)范圍廣泛，工作曲線，方法可自由選取，修定。對各種科研，分析單位的適應(yīng)能力強。
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